WLD-C型光谱分析仪及数码金相检测系统

配置高像素的数码摄影系统，具有多倍光学变焦，可以连续选择各种放大倍率，并由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出。可进行金属原材料晶粒度、球墨铸铁石墨球化率测量评级；脱碳层、渗碳层测量以及表面涂层厚度测量等精密检测，分析、统计并输出图文报告。